干擾是產(chǎn)品整機(jī)測試中常見而又十分棘手的問題，當(dāng)系統(tǒng)電路遭到干擾時，在電源線或者信號線上產(chǎn)生某種頻率、一定幅值的干擾波。液晶顯現(xiàn)模塊作為產(chǎn)品的一個顯現(xiàn)窗口，必然也是干擾的扮演窗口之一。模塊對系統(tǒng)而言，是純輸入型部件，或稱被動型部件，既模塊接納滿足操作時序關(guān)系的任何信號而無判別是非的才能。錯誤的信號與數(shù)據(jù)，將產(chǎn)生錯誤的控制字指令或者顯現(xiàn)圖案，招致錯誤的顯現(xiàn)效果。

消弭干擾的首要工作是找到干擾源或干擾影響的位置，然后以有效的辦法去消弭、消弱、或預(yù)防、屏蔽、彌補(bǔ)。

液晶顯現(xiàn)屏EMI與處理辦法

問：工作時或者做干擾測試時，呈現(xiàn)白屏/藍(lán)屏（所謂白屏或者藍(lán)屏，是指模塊屏幕好像剛上電時顯現(xiàn)，只要背光亮，調(diào)比照度也沒有反響）

答：這是由于在模塊工作期間，干擾施加在模塊的電源 VDD 或者VSS 上，或者施加到模塊的RESET 信號線上，招致模塊被復(fù)位了。復(fù)位的結(jié)果是初始化了模塊內(nèi)部存放器，同時關(guān)顯現(xiàn)。處理的辦法是：假如干擾施加在電源線上，則倡議在最靠近模塊的位置的電源線VDD、VSS 之間并入一個穩(wěn)壓電容(10uF)和一個濾波電容（0.1uF/0.01uF）。假如干擾施加在 RESET 信號線上，則倡議在最靠近模塊的位置的RESET 信號線對VSS之間并入一個濾波電容，電容容量選擇0.1uF 或0.01uF。電容值的選擇，需求依據(jù)實(shí)踐測試的效果而定。

問：工作時或干擾測試時，畫面產(chǎn)生錯誤的字符或亂點(diǎn)（數(shù)據(jù)錯誤），而且無法恢復(fù)，只能重新上電，初始化存放器才干恢復(fù)

答： 這是由于干擾施加到控制信號上，使得存放器參數(shù)被修正，普通的操作是寫顯現(xiàn)數(shù)據(jù)，沒有對主要工作的存放器參數(shù)停止反復(fù)寫入，所以呈現(xiàn)上述現(xiàn)象。處理的辦法是：假如干擾施加在傳輸線上，（1）用磁環(huán)、或者錫紙、銅薄做線路的屏蔽；（2）改動傳輸線的走向，規(guī)避干擾環(huán)境；（3）縮短傳輸線長度；或者參加傳輸線驅(qū)動器，以進(jìn)步驅(qū)動才能和抗干擾才能。

問：工作時或干擾測試時，找不到干擾點(diǎn)或者采取電路預(yù)防，依然根絕不了干擾的影響，怎樣辦？

答：定時對存放器初始化，首先不運(yùn)用RESET 信號，僅對存放器操作；假如呈現(xiàn)死機(jī)不能恢復(fù)的話，就需求運(yùn)用RESET 信號初始化，但這樣的操作在正常顯現(xiàn)下會產(chǎn)生閃屏現(xiàn)象。因而，為了保證正常顯現(xiàn)不遭到初始化的干擾1、能夠采用讀存放器數(shù)據(jù)做初始化的判別根據(jù)，如讀顯現(xiàn)狀態(tài)字，特殊SRAM 單元數(shù)據(jù)等。2、運(yùn)用負(fù)性顯現(xiàn)模塊，在不操作時關(guān)閉背光，此時，不易察看到顯現(xiàn)內(nèi)容，當(dāng)需求察看顯示內(nèi)容時，希望啟動背光點(diǎn)亮，將此時作為重新初始化模塊啟動點(diǎn)，不易被發(fā)覺。

問：對產(chǎn)品外殼（特別是產(chǎn)品面板）停止靜電干擾測試，模塊呈現(xiàn)白屏或者亂顯現(xiàn)象

答：這種干擾多數(shù)是經(jīng)過模塊的鐵框或玻璃干擾模塊電路的。改善的辦法是，（1）模塊的鐵框接大地、（2）模塊的鐵框接VSS，（3）模塊的鐵框浮空，（4）在模塊鐵框與金屬外殼之間加絕緣墊，絕緣墊越厚，對靜電的消減就越大；這四種辦法需求在實(shí)踐產(chǎn)品中測試，選擇有效的辦法。

問：外部沒有干擾源，但也呈現(xiàn)白屏或者亂顯現(xiàn)象

答：這種狀況也屬于干擾，是系統(tǒng)內(nèi)部的干擾，主要是軟件的程序抵觸所致。首先找出干擾呈現(xiàn)的規(guī)律，如下時機(jī)假如發(fā)作在模塊的寫入過程中時，容易產(chǎn)生模塊的死機(jī)、錯誤顯現(xiàn)等：中綴程序正在操作模塊（I/O 尋址方式）的過程中產(chǎn)生，控制信號被修正、數(shù)據(jù)被修正等錯誤的操作，招致模塊的死機(jī)或顯現(xiàn)錯誤。改善的方式是，在操作模塊過程中，關(guān)閉中綴響應(yīng)操作。